Le Park FX40 IR : une avancée majeure pour l’analyse nano IR
Le lancement du Park FX40 IR marque une étape majeure dans la recherche scientifique. Park Systems, leader mondial des solutions de microscopie à force atomique (AFM), propose désormais un instrument qui combine performances avancées et innovation à l’échelle nanométrique. Ce nouvel appareil offre aux chercheurs des possibilités inédites pour analyser la composition chimique de leurs échantillons avec une précision remarquable.
Une plateforme innovante pour l’analyse chimique à l’échelle nano
Le Park FX40 IR permet d’obtenir des informations chimiques infrarouges (IR) et une topographie de surface avec une résolution exceptionnelle, inférieure à 5 nm. Grâce à la microscopie à force photo-induite (PiFM), il détecte sans contact les vibrations moléculaires. Cette innovation évite ainsi tout dommage ou contamination de l’échantillon. Contrairement aux méthodes traditionnelles, il dépasse la limite de résolution de la spectroscopie FT-IR et des techniques photothermiques en contact. Les spectres IR obtenus sont très proches des analyses conventionnelles, garantissant fiabilité et précision.
Des performances AFM et IR réunies grâce à l’automatisation
La technologie du Park FX40 IR repose sur une plateforme automatisée, basée sur le succès du Park FX40. L’instrument prend en charge toutes les étapes, du changement de sonde à l’acquisition d’image. Sa conception avancée réduit les perturbations mécaniques grâce à un microscope optique découplé. Les utilisateurs bénéficient ainsi d’un faible bruit, d’une grande stabilité et d’une dérive thermique minimale. L’automatisation intelligente accélère et fiabilise chaque mesure, même pour de petits échantillons jusqu’à 20 mm × 20 mm.
Un outil évolutif conçu pour répondre aux besoins des chercheurs
Park Systems propose une voie d’acquisition progressive pour le FX40 IR. Les laboratoires peuvent commencer avec un AFM FX40 complet, prêt à être équipé d’un module IR plus tard. Cette flexibilité permet d’adapter l’outil selon l’évolution des besoins, sans remplacer l’équipement de base. Cela représente un investissement sûr pour les chercheurs souhaitant enrichir leurs analyses à leur rythme. De plus, la gamme couvre aussi bien les petits échantillons que les grandes surfaces.
Pour conclure, le Park FX40 IR s’impose comme un outil de référence pour la nanométrologie et la spectroscopie IR. Il associe performances, fiabilité et flexibilité pour répondre aux exigences de la recherche moderne. Cet appareil ouvre de nouvelles perspectives pour l’étude détaillée des matériaux, tout en simplifiant fortement le travail quotidien des scientifiques.
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